Методика исследования точности измерения толщины тонкопленочных оптических покрытий в процессе их нанесения
Репозиторий БНТУ
Информация об архиве | Просмотр оригинала| Поле | Значение | |
| Заглавие |
Методика исследования точности измерения толщины тонкопленочных оптических покрытий в процессе их нанесения
|
|
| Автор |
Шахлевич, А. В.
Соколовский, С. С. |
|
| Дата |
2018-09-04T12:10:01Z
2018-09-04T12:10:01Z 2018 |
|
| Тип |
Working Paper
|
|
| Идентификатор |
Шахлевич, А. В. Методика исследования точности измерения толщины тонкопленочных оптических покрытий в процессе их нанесения / А. В. Шахлевич, С. С. Соколовский // Новые направления развития приборостроения : материалы 11-й Международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, (18-20 апреля 2018 г.) / пред. редкол. О. К. Гусев. - Минск : БНТУ, 2018. - C. 307.
https://rep.bntu.by/handle/data/47060 |
|
| Язык |
ru
|
|
| Охват |
БНТУ
|
|
| Издатель |
БНТУ
|
|