Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами
Репозиторий БНТУ
Информация об архиве | Просмотр оригинала| Поле | Значение | |
| Заглавие |
Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами
|
|
| Автор |
Тявловский, А. К.
Жарин, А. Л. |
|
| Дата |
2019-04-26T07:13:55Z
2019-04-26T07:13:55Z 2018 |
|
| Тип |
Научный доклад (Working Paper)
|
|
| Идентификатор |
Тявловский, А. К. Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 176.
http://rep.bntu.by/handle/data/52208 |
|
| Язык |
ru
|
|
| Охват |
Минск
|
|
| Издатель |
БНТУ
|
|