Materials Imaging and Integration (MII): new paradigm of nanoscale materials design and discovery
Электронный научный архив УРФУ
Информация об архиве | Просмотр оригинала| Поле | Значение | |
| Заглавие |
Materials Imaging and Integration (MII): new paradigm of nanoscale materials design and discovery
|
|
| Автор |
Hong, S.
Cho, S. Park, G. Kim, H. Li, P. Ryu, J. Oh, C. Kim, H. J. Kim, J. Yun, S. Oh, J. Glasser, M. Yeom, J. Eom, S. Jetybayeva, A. Kim, H. G. Han, Y. J. |
|
| Дата |
2019-12-19T12:26:28Z
2019-12-19T12:26:28Z 2019 |
|
| Тип |
Conference Paper
Conference object (info:eu-repo/semantics/conferenceObject) Published version (info:eu-repo/semantics/publishedVersion) |
|
| Идентификатор |
Materials Imaging and Integration (MII): new paradigm of nanoscale materials design and discovery / S. Hong, S. Cho, G. Park, H. Kim, P. Li, J. Ryu, C. Oh, H. J. Kim, J. Kim, S. Yun, J. Oh, M. Glasser, J. Yeom, S. Eom, A. Jetybayeva, H. G. Kim, Y. J. Han // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 15.
978-5-9500624-2-1 http://elar.urfu.ru/handle/10995/79235 |
|
| Язык |
en
|
|
| Связанные ресурсы |
Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019
|
|
| Формат |
application/pdf
|
|
| Издатель |
Ural Federal University
|
|