Программа автоматической аппроксимации вольт-амперных зависимостей, измеренных при помощи сканирующего зондового микроскопа
Электронный научный архив УРФУ
Информация об архиве | Просмотр оригинала| Поле | Значение | |
| Заглавие |
Программа автоматической аппроксимации вольт-амперных зависимостей, измеренных при помощи сканирующего зондового микроскопа
|
|
| Автор |
Слаутин, Б. Н.
|
|
| Тематика |
ПРОГРАММА ДЛЯ ЭВМ
|
|
| Описание |
Программа предназначена для аппроксимации в автоматическом режиме локальных вольт-амперных характеристик (ВАХ), измеренных при помощи сканирующего зондового микроскопа. Входные данные: файл TXT, содержащий значения напряжения и величины тока; файл TXT с условиями эксперимента. В программе предусмотрена фильтрация исходных данных от паразитных вкладов с помощью фильтра низких частот для уменьшения уровня шума. Основная функция программы - аппроксимация ВАХ для определения типа и значения локальной электрической проводимости. Программа может быть использована для изучения свойств полупроводников и проводимости заряженных доменных стенок в сегнетоэлектрических материалах. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№ 2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15 2021-677).
|
|
| Дата |
2024-05-21T07:21:28Z
2024-05-21T07:21:28Z 2023-10-27 |
|
| Тип |
Patent
Patent (info:eu-repo/semantics/patent) |
|
| Идентификатор |
2023681189
http://elar.urfu.ru/handle/10995/134801 56001811 |
|
| Язык |
ru
|
|
| Связанные ресурсы |
https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2023682660&TypeFile=html
|
|
| Формат |
application/pdf
|
|