Модуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419
Электронный архив ТПУ
Информация об архиве | Просмотр оригинала| Поле | Значение | |
| Заглавие |
Модуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419
|
|
| Автор |
Лачков, Иван Евгеньевич
|
|
| Создатель |
Шестаков, Василий Васильевич
|
|
| Тематика |
модуль
микросхема памяти микроконтроллер интерфейс ДМТ 419 module DMT 419 chip memory interface flash memory 12.03.01 620.179.152:621.382.049.77:004.422.8 |
|
| Описание |
Цель выпускной квалификационной работы разработка модуля тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе комплекса ДМТ 419. Разрабатываемый модуль используется для тестирования микросхем памяти, используемых в неблагоприятных условиях. По итогам работы был разработан модуль и программное обеспечение для ДМТ 419.
The theme of my scientific work is the development of a module for testing memory chip based on the DMT 419 complex. This device analyzes the state of microchips after exposure to ionizing radiation. As a result, a module for testing memory chips based on the DMT 419. |
|
| Дата |
2017-06-08T10:10:33Z
2017-06-08T10:10:33Z 2017 |
|
| Тип |
Students work
|
|
| Идентификатор |
Лачков И. Е. Модуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419 : бакалаврская работа / И. Е. Лачков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК) ; науч. рук. В. В. Шестаков. — Томск, 2017.
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/39631 |
|
| Язык |
ru
|
|
| Права |
Open access (info:eu-repo/semantics/openAccess)
|
|
| Формат |
application/pdf
|
|